高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡應(yīng)用講座

高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡應(yīng)用講座

FEI公司電鏡應(yīng)用工程師于洋到我校進(jìn)行高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡應(yīng)用講座。講座主要針對(duì)我校安裝的高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（型號(hào)：Nova Nano SEM 450）進(jìn)行詳細(xì)介紹，包括該儀器的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)，對(duì)樣品的適用范圍和圖片展示，以及在各個(gè)領(lǐng)域（諸如金屬、地礦等）的應(yīng)用。歡迎感興趣的師生參加。

講座時(shí)間：2016年6月2日（星期四）上午9：00

講座地點(diǎn)：昆明理工大學(xué)蓮華校區(qū)

新材料制備與加工重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室四樓報(bào)告廳

檢測(cè)地點(diǎn)：蓮華校區(qū)圖書館一樓南側(cè)（真空冶金研究所對(duì)面）

檢測(cè)咨詢電話：65115227,65110975,65183516

聯(lián)系人：周老師、王老師、段老師

                                            實(shí)驗(yàn)室管理處

                                          分析測(cè)試研究中心

                                             2016.5.30